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無損檢測儀器設(shè)備校準(zhǔn)或核查要求

2011-04-09

                                            無損檢測儀器設(shè)備校準(zhǔn)或核查要求
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（規(guī)范性附錄）
 A.1 超聲檢測
A.1.1 初次使用的標(biāo)準(zhǔn)試塊、對比試塊，應(yīng)有有效的合格證書。
A.1.2 標(biāo)準(zhǔn)試塊、對比試塊每次使用前，應(yīng)進(jìn)行外觀腐蝕及機(jī)械損傷情況核查；每隔4年應(yīng)采用經(jīng)校準(zhǔn)的器具對其半徑及其它尺寸進(jìn)行核查。
A.1.3脈沖反射式超聲波探傷儀每1年，應(yīng)進(jìn)行校準(zhǔn)（或自校準(zhǔn)），方法參照J(rèn)JG 746-2004《超聲波探傷儀檢定規(guī)程》。
A.1.4 脈沖反射式超聲超聲波探傷儀每隔3個月，應(yīng)采用標(biāo)準(zhǔn)試塊進(jìn)行水平線性、垂直線性核查，方法參照J(rèn)B/T 10061-1999《A型脈沖反射式超聲波探傷系統(tǒng)工作性能  測試方法》。
A.1.5 探頭使用前，應(yīng)進(jìn)行前沿距離（入射點）、K值（折射角β）與雙峰、主聲束偏離等主要參數(shù)核查，方法參照J(rèn)B/T 10062-1999《超聲探傷用探頭  性能測試方法》。
A.1.6 超聲檢測系統(tǒng)每次使用前，斜探頭應(yīng)進(jìn)行前沿距離（入射點）、K值（折射角β）與主聲束偏離等核查；直探頭應(yīng)進(jìn)行始脈沖寬度（在基準(zhǔn)靈敏度下）、靈敏度余量和分辨力等核查，方法參照J(rèn)B/T 9214-1999 《A型脈沖反射式超聲波探傷系統(tǒng)工作性能  測試方法》和/或JB/T 10062-1999《超聲探傷用探頭  性能測試方法》。
A.2  磁粉檢測
A.2.1 永久磁鐵或電磁軛磁粉探傷機(jī)的提升力，至少每半年應(yīng)采用經(jīng)校準(zhǔn)的提升力重力試塊進(jìn)行核查。
A.2.2 提升力重力試塊，每2年應(yīng)采用經(jīng)校準(zhǔn)的秤重器具進(jìn)行核查。
A.2.3 磁粉檢測設(shè)備的電流表，至少每半年進(jìn)行核查或校準(zhǔn)（或自校準(zhǔn)）。
A.2.4黑光輻照計、照度計、磁場強(qiáng)度計、毫特斯拉計等，至少每年進(jìn)行核查或校準(zhǔn)（或自校準(zhǔn)）。
A.2.5 設(shè)備內(nèi)部短路檢查、電流載荷、通電時間等，至少每年進(jìn)行核查。
A.2.6 磁粉檢測系統(tǒng)綜合性能（系統(tǒng)靈敏度），每次檢測前，用標(biāo)準(zhǔn)試片、標(biāo)準(zhǔn)試塊進(jìn)行核查。
A.2.7 對于熒光磁粉檢測，每次檢測前，應(yīng)采用黑光輻照計對被檢測表面的黑光輻照度進(jìn)行核查，采用白光照度計對周圍環(huán)境的白光亮度進(jìn)行核查；對于非熒光磁粉檢測，每次檢測前，應(yīng)采用白光照度計對周圍環(huán)境的白光亮度進(jìn)行核查。
A.3  滲透檢測
A.3.1 黑光輻照度計、熒光亮度計和照度計等，至少每年進(jìn)行核查或校準(zhǔn)（或自校準(zhǔn)）。
A.3.2 對于熒光滲透檢測，每次檢測前，應(yīng)采用黑光輻照計對被檢測表面的黑光輻照度進(jìn)行核查，采用白光照度計對周圍環(huán)境的白光亮度進(jìn)行核查；對于非熒光滲透檢測，每次檢測前，應(yīng)采用白光照度計對周圍環(huán)境的白光亮度進(jìn)行核查。
A.4  射線檢測
A.4.1 射線設(shè)備均應(yīng)制作曝光曲線，曝光曲線每年至少核查一次；射線設(shè)備更換重要部件或經(jīng)較大修理后，應(yīng)及時對曝光曲線進(jìn)行核查。
A.4.2 黑度計（光學(xué)密度計）至少每6個月，應(yīng)采用標(biāo)準(zhǔn)密度片進(jìn)行核查，方法參照J(rèn)B/T 4730.2附錄B要求。
A.4.3 標(biāo)準(zhǔn)密度片每2年，應(yīng)進(jìn)行校準(zhǔn)（或自校準(zhǔn)），方法參照J(rèn)JG 452-1986《黑白標(biāo)準(zhǔn)密度片檢定規(guī)程》。
A.4.4 個人劑量計、劑量報警儀每1年，應(yīng)送法定計量檢定機(jī)構(gòu)進(jìn)行檢定。
A.4.5 觀片燈的亮度和均勻度，應(yīng)每年進(jìn)行核查或校準(zhǔn)。
A.5  厚度檢測
A.5.1 超聲測厚儀每1年，應(yīng)進(jìn)行校準(zhǔn)（或自校準(zhǔn)），方法參照J(rèn)JG 403-1986《超聲波測厚儀檢定規(guī)程》或 JJF11266-2004《超聲波測厚儀校準(zhǔn)規(guī)范》。
A.5.2 涂層測厚儀每1年，應(yīng)進(jìn)行校準(zhǔn)（或自校準(zhǔn)），方法參照J(rèn)JG 889-1995《磁阻法測厚儀檢定規(guī)程》、JJG818-1993《電渦流式測厚儀檢定規(guī)程》。
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